Original
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Radiografías características de elementos.
La energía potencial orbital de los electrones de los diversos elementos es diferente entre sí. Por lo tanto, la energía del fotón de rayos X emitida después de la excitación es diferente entre sí, es decir, cada elemento emite rayos X con la energía específica del átomo de ese elemento, que representa las características del elemento y por lo tanto se denomina característica X -ray del elemento. La radiografía característica de cada elemento tiene su energía específica, y la radiografía detectada con cierta energía puede determinar la existencia de este elemento en la muestra de material.
Principio de trabajo EDXRF
La radiografía original producida por el tubo de rayos X y el alto voltaje se irradia sobre la muestra después de haber sido filtrada correctamente por el filtro óptico. Se estimula la radiografía característica (denominada fluorescencia de rayos X) de los elementos contenidos en la muestra. Los espectros de fluorescencia de rayos X se obtuvieron utilizando detectores de rayos X con alta resolución de energía. Diferentes elementos formaron diferentes picos espectrales en los espectros. La fuerza del pico espectral es directamente proporcional al contenido de elementos en la muestra. El espectro de energía detectado por el detector es analizado por la computadora. Los tipos de elementos contenidos en la muestra se analizan cualitativamente por la posición y la forma del pico espectral.
Espectrómetro de fluorescencia de rayos x
AL-NP-5010A
Usando tecnología de análisis de fluorescencia de rayos X de energía dispersiva, AL-NP-5010A es capaz de medir varios elementos en la sustancia simultáneamente. Se puede configurar para medir múltiples elementos de Na a U de acuerdo con los requisitos de la aplicación del usuario GG. El instrumento se puede utilizar ampliamente en la protección del medio ambiente, arqueología, materiales de construcción, directiva RoHS y otras industrias. Es la opción ideal de control de calidad para la empresa.
Parámetros:
Rango de medición del elemento: Na (11) -U (92)
Min. límite de medición: Cd / Hg / Br / Cr / Pb≤2 ppm
Forma de muestra: tamaño arbitrario, cualquier forma irregular
Tipo de muestra: plástico / metal / película / polvo / líquido, etc.
Tubo de rayos X: objetivo Mo, 5─50KV, 1─1000ｕA
Diámetro de exposición de la muestra: 2, 5, 8 mm
Detector: detector Si-PIN o SDD, sistema de análisis de altura de pulso de alta velocidad
Generador de alto voltaje: generador de alto voltaje especial para fluorescencia X
ADC: 2048 canales
Filtro: 6 filtros se seleccionan y convierten automáticamente.
Observación de muestra: cámara CCD a color de 200 ×
Software de análisis: productos de software patentados, actualización gratuita de por vida
Método de análisis: método de coeficiente α teórico, método de parámetro básico, método de coeficiente empírico
Tiempo de análisis: 30-900 segundos, ajustable
Software del sistema operativo: WINDOWS XP
Entorno de trabajo: temperatura 10－35С, humedad 30－70 ％ RH
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